當(dāng)前位置：
-
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1252 -
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 -
更新時(shí)間
2024-05-15 -
瀏覽次數(shù)
1678
產(chǎn)品描述
手持式液晶顯示四探針測(cè)試儀用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.
18501309179
18501309179
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)文章
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1252廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1678產(chǎn)品描述
手持式液晶顯示四探針測(cè)試儀用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1228廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1876產(chǎn)品描述
半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式，同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1228A廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
2238產(chǎn)品描述
半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式，同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1228B廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1907產(chǎn)品描述
半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式，同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
產(chǎn)品型號(hào)
BX-Y1220A廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
2081產(chǎn)品描述
液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料,晶圓、太